Слайд 2
Теоретические основы Обобщенная структурная схема сканирующего зондового микроскопа
Слайд 3
Сканирующие зондовые микроскопы Общей чертой всех сканирующих зондовых микроскопов
является способ получения информации о свойствах исследуемой поверхности. Микроскопический
зонд сближается с поверхностью до установления между зондом и образцом баланса взаимодействий определенной природы, после чего осуществляется сканирование.
Слайд 4
Немного истории… STM изображение поверхности монокристаллического кремния. Реконструкция 7
х 7 Цюрих Герхард Биннинг Хайнрих Рёрер
Слайд 5
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) а - промышленная консоль; б
- острие иглы. а б Схема работы сканирующего туннельного микроскопа
Слайд 6
Режимы работы СТМ: а - в режиме постоянной высоты;
сканирующий туннельный микроскоп. Области применения: химические и фотохимические реакции, катализ,
напыление, полупроводниковые технологии, адсорбция, модификация поверхности ионами, электронами и другими частицами, нанотехнология, атомные манипуляции.
зонды – кантилеверы, свойства микроскопа напрямую зависят от свойств
кантилевера.
Изображение кантилевера NCS16 полученное в лаборатории МГУ физического факультета.
Частота собственных колебаний зонда
Слайд 9
Атомно-силовой электронный микроскоп (АСМ) В нем регистрируют изменения силы
притяжения иглы к поверхности от точки к точке. Деформацию
кантилевера регистрируют по отклонению лазерного луча, падающего на его тыльную поверхность, или с помощью пьезорезистивного эффекта, возникающего в самом кантилевере при изгибе;
Слайд 10
Зависимость силы межатомного взаимодействия от расстояния между острием