Презентация на тему Дифракция света

токов)
происходит перемещение электрической
и магнитной энергии от одних

Пульсации энергии приобретают
характер волнового процесса.

Изменение вихревого ЭП приводит к
появлению вихревого МП (и наоборот).

и новые области пространства.
Поверхность, разделяющая частицы
среды,
Точки, колеблющиеся
в одинаковых

участвующие и не участвующие
в колебательном движении,

называется волновым фронтом

ВФ
(источник в виде нити)
04
3) плоский ВФ

поле от двух
когерентных
монохроматических
источников S1 и S2:

процесс распространения волн в

дифракция –

носят название явлений дифракции.

Явления, которые наблюдаются как
отклонения от законов геом.оптики

Задача теории дифракции –

при данном расположении источников
и препятствий

определить поле во всем
пространстве

13

помощью уравнений Максвелла
можно решать задачи распространения света через любую

Часто пользуются приближенными методами решения задачи для границы между тенью и светом.

Рассмотрим один из таких методов
– принцип Гюйгенса–Френеля

поле в т.P
за экраном с
отверстием.
1) проведем произвольную поверхность

Вычислим световое поле
в каждой точке этой поверхности

в точке P совпадает с полем

2) каждую точку (элемент поверхности)
S можно рассматривать как источник
вторичных волн, которые когерентны.

времени

Световой луч – линия, вдоль которой
распространяется свет.

В изотропной
среде лучи направлены по нормали к ВП

света
Из принципа также следует объяснение
прямолинейного распространения света
Замечаниe

Волна, отделившаяся от источника,
ведет автономное существование,
не зависящее от наличия источников

поля за препятствием
определяется как результат сложения
волн от многих вторичных

Пусть A(x, y) –
амплитуда поля
источников S1, S2, …
в точке (x, y).

Тогда dS является источником вторичных волн с амплитудой A(x, y)·dS

Лифшиц Е.М.
«Теория поля», стр. 199

y) = const
область экрана:
x > 0, z = 0

радиус-вектор –

амплитуда поля
φ – угол дифракции
b – ширина щели
λ –

края щели:
Суммарное поле от всей щели:

m
26
направления
на минимумы:
или

конечное число min (темных полос);
2) при b

3) условие наблюдения max в явном
виде получить не удается.

называется постоянной (периодом)
решетки.
это совокупность большого числа
одинаковых,

Пусть на решетку падает ПЭМВ
с длиной волны λ.

вторичных волн с цилиндрическим ВФ.
– разность хода между

номер главного
максимума
Точное распределение интенсивности
в дифракционной

N – число линий (щелей) на диф.решетке

прибор
Если в составе падающего излучения
присутствуют две спектральные линии
λ1

35

то они дифрагируют на разные
углы – главные максимумы находятся
в разных местах (не перекрываются).

= λ + δλ возможно
перекрытие:
Пример: тонкая структура

значения в максимуме.
δλ, соответствующее этому критерию, для каждого прибора

разрешающая сила
(способность)
спектрального прибора

Спектральные линии считаются
разрешенными, если середина одного
максимума совпадает с краем другого.

Критерий Рэлея