- Главная
- Разное
- Бизнес и предпринимательство
- Образование
- Развлечения
- Государство
- Спорт
- Графика
- Культурология
- Еда и кулинария
- Лингвистика
- Религиоведение
- Черчение
- Физкультура
- ИЗО
- Психология
- Социология
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Маркетинг
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Что такое findslide.org?
FindSlide.org - это сайт презентаций, докладов, шаблонов в формате PowerPoint.
Обратная связь
Email: Нажмите что бы посмотреть
Презентация на тему Интерференция света и её применение
Содержание
- 2. Интерференция светаЧасть 2Лекция 10Условие пространственной когерентностиИнтерференция в тонких пленкахПрименение явлений интерференции
- 3. Условие пространственной когерентностиРазмытие интерференционной картины
- 4. δх - смещение 0-го max →- угловой
- 5. ПримерПри наблюдении картины интерференции от Солнца (его
- 6. Влияние ширины источника на интерференционную картину Условие достаточной резкости картины интерференции:⇒
- 7. Интерференция в тонких пленкахОтражение от более плотной
- 8. Виды интерференционных картин на тонких пленкахУсловия: h
- 9. Примеры применения1. Просветление оптики2. Получение диэлектрических зеркал
- 10. 2. Линии равного наклонаУсловия: h = const,
- 11. 3. Линии равной толщины Условия: толщина пленки
- 12. Задание. Определите, какие два зазора из представленных
- 13. Кольца Ньютона , т.к. b2 → 0
- 14. Условие максимума (светлые кольца) ∆ = m
- 15. Применение интерференции Для измерений: Длины волны λ
- 16. Интерферометры Интерферометр МайкельсонаP1 – светоотделитель (полупрозрачная пластинка)S1′-
- 17. Можно получить 2 класса картин:Зеркало S2 смещено
- 18. Интерферометр Линника Предназначен для оценки качества поверхности.
- 19. Интерферометр Маха-Цендерапредназначен для интерференционных измерений модуляции плотности
- 20. Фурье - спектрометр
- 21. Скачать презентацию
- 22. Похожие презентации
Интерференция светаЧасть 2Лекция 10Условие пространственной когерентностиИнтерференция в тонких пленкахПрименение явлений интерференции
Слайд 2
Интерференция света
Часть 2
Лекция 10
Условие пространственной когерентности
Интерференция в тонких
пленках
Слайд 4
δх - смещение 0-го max
→
- угловой размер
источника
Из подобия треугольников
Условие наблюдения картины
интерференции:
Оценочное условие пространственной когерентности:
Предельное
расстояние между щелями: – радиус когерентности волнового поля, максимальное
расстояние между точками волновой поверхности, на котором вторичные волны, испускаемые этими точками, еще будут когерентными.
Слайд 5
Пример
При наблюдении картины интерференции от Солнца
(его угловые
размеры φ = 0,1 рад) для λ0 = 550
нмОбъем когерентности
- объединенное условие пространственной и временной когерентности
Слайд 6
Влияние ширины источника на
интерференционную картину
Условие достаточной
резкости картины интерференции:
⇒
Слайд 7
Интерференция в тонких пленках
Отражение от более плотной среды
-
условие максимума
интерференции
– условие максимума при интерференции на
тонкой пленке
Слайд 8
Виды интерференционных картин на тонких пленках
Условия: h =
const, пучок лучей широкий и параллельный
1. Цвета тонких пленок
– интерференция при освещении пленки широким пучком
Слайд 9
Примеры применения
1. Просветление оптики
2. Получение диэлектрических зеркал
Схема
многослойного диэлектрического
покрытия (n1>n0, n1>n2, n1l1 = n2l2 =
λ0/4) С семью слоями R = 0,9 в спектральной области шириной порядка 50 нм. Для получения коэффициента отражения R = 0,99 (такие зеркала используются в лазерных резонаторах) надо нанести 11-13 слоев.
Слайд 10
2. Линии равного наклона
Условия: h = const, λ
= const, световой пучок – расходящийся.
Полосы локализованы в бесконечности,
имеют вид колец. Свойства полос равного наклона
Слайд 11
3. Линии равной толщины
Условия: толщина пленки плавно
изменяется (h ≠ const), представляя собой клин. Пучок параллельный.
Система
полос равной толщины- максимум (светлая полоса)
- минимум (темная полоса)
Слайд 12 Задание. Определите, какие два зазора из представленных пяти
соответствуют данным системам интерференционных полос равной толщины:
Пример применения -
определение качества обработки поверхностейСлайд 14 Условие максимума (светлые кольца) ∆ = m λ,
где m – целое число.
- радиус m-го светлого кольца
в отраженном свете (и темного – в прошедшем)
Условие минимума (темные кольца) ∆ = (m + ½) λ.
- радиус m-го темного кольца в отраженном свете
(и светлого – в прошедшем)
Кольца Ньютона в зеленом и красном свете
Пример применения – проверка качества шлифовки линз.
Слайд 15
Применение интерференции
Для измерений:
Длины волны λ
Коэффициента
преломления n
Длин эталонов
Малых перемещений
Деформаций
Качества обработки
поверхностей
Слайд 16
Интерферометры
Интерферометр Майкельсона
P1 – светоотделитель (полупрозрачная пластинка)
S1′- референтная
плоскость (плоскость сравнения)
– совпадает с изображением зеркала S1
в полупрозрачном слое. Если зеркало S2 совпадает с референтной плоскостью, то ∆ = 2(L1 – L2) = 0
Слайд 17
Можно получить 2 класса картин:
Зеркало S2 смещено от
референтной
плоскости, между S1 и S2 как бы
плоскопараллельная
пластинка.От источника света - расходящийся пучок.
Зеркало S2 наклонено к референтной
плоскости. От источника света
- параллельный пучок (через линзу)
Линии равного наклона
Линии равной толщины
Слайд 18
Интерферометр Линника
Предназначен для оценки качества поверхности.
Для
этого одно из зеркал нужно заменить поверхностью.
Интерферометр Релея
Предназначен
для измерения показателей преломления газов и жидкостей Внизу свет идет вне кювет. Нижняя система интерференционных полос - шкала для отсчета. Добавочная разность хода ∆ = (n2 - n1)l, где n1 и n2 - коэффициенты преломления веществ, заполняющих кюветы. Верхняя система полос сдвинута относительно нижней. По смещению с помощью компенсатора определяют n2 - n1. Позволяет обнаружить изменение n2 - n1 около 10-7.
Слайд 19
Интерферометр Маха-Цендера
предназначен для интерференционных измерений модуляции плотности в
газовых потоках (в аэродинамических трубах и т.п.).
n = 1+mλ/L,
где L - длина кюветы,
m - порядок интерференции
