Что такое findslide.org?

FindSlide.org - это сайт презентаций, докладов, шаблонов в формате PowerPoint.


Для правообладателей

Обратная связь

Email: Нажмите что бы посмотреть 

Яндекс.Метрика

Презентация на тему Нанотехнологии и науки о материалах

Инструменты для изучения веществаСканирующий электронный микроскопМетод был разработан Г. Биннигом и Г. Рорером, которым за эти исследования в 1986 была присуждена Нобелевская премия. Атомно-силовой микроскопСканирующий туннельный микроскопГ. Бинниг показ принципиальную возможность неразрушающего контакта зонда с поверхностью
НАНОТЕХНОЛОГИИ ИНАУКИ О МАТЕРИАЛАХЗанятие 521.03.2017 Инструменты для изучения веществаСканирующий электронный микроскопМетод был разработан Г. Биннигом и Г. Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа Иглы для микроскопов получают методом электрохимического травления. Раствор электролитаАтом острия, расположенный на Оптический пинцет представляет из себя устройство, использующее сфокусированный луч лазера для передвижения
Слайды презентации

Слайд 2 Инструменты для изучения вещества
Сканирующий электронный микроскоп
Метод был разработан

Инструменты для изучения веществаСканирующий электронный микроскопМетод был разработан Г. Биннигом и

Г. Биннигом и Г. Рорером, которым за эти исследования

в 1986 была присуждена Нобелевская премия.



Атомно-силовой микроскоп

Сканирующий туннельный микроскоп

Г. Бинниг показ принципиальную возможность неразрушающего контакта зонда с поверхностью образца.


Слайд 3 Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа,

Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения

предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным

разрешением.

Туннельный микроскоп работает на «туннельном эффекте».
Туннельный эффект - преодоление частицей потенциального барьера к более выгодному или равному по энергии состоянию, в случае, когда её полная энергия меньше этого барьера.


Слайд 4 Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа,

Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения

предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным

разрешением.

Туннельный микроскоп работает на «туннельном эффекте».
Заметьте нет нарушения закона сохранения энергии!!!


Слайд 5 Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа,

Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения

предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным

разрешением.

В случае со сканирующим туннельным микроскопом туннельный эффект выражается в том, что ток начинает завесить от расстония. Чем ближе игла к подложке, тем больше ток. Поддерживая постоянным напряжение и высоту иглы, при этом измеряя ток, получается профиль подложки.


Слайд 6 Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа,

Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения

предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным

разрешением.

С помощью туннельного микроскопа можно перемещать атомы.
Если напряжение между иглой микроскопа и поверхностью образца сделать в
несколько больше, чем надо для изучения этой поверхности, то ближайший к ней атом образца превращается в ион и "перескакивает" на иглу.

Сложенное из 35 атомов ксенона на пластинке из никеля название компании IBM, 1990 год.


Слайд 7 Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа,

Сканирующий туннельный микроскоп — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения

предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным

разрешением.

Также, если имеются полярные молекулы или ионы, они могут упорядочиваться вблизи иглы микроскопа.
Такой способ нанесения атомов называется - перьевой нанолитографией.


Слайд 8 Иглы для микроскопов получают методом электрохимического травления.
Раствор

Иглы для микроскопов получают методом электрохимического травления. Раствор электролитаАтом острия, расположенный

электролита
Атом острия, расположенный на 1 Å ближе к поверхности,

нежели другие атомы иглы, собирает более 90% туннельного тока.


  • Имя файла: nanotehnologii-i-nauki-o-materialah.pptx
  • Количество просмотров: 136
  • Количество скачиваний: 1