Презентация на тему Физические методы исследования материалов(для мм и нт)

информация по курсу

микроскопических методов исследования. Оптическая микроскопия.
Растровая электронная микроскопия.
Спектральные методы

анализа.
Элементарные основы кристаллографии.
Понятие решётки. Индексы Миллера. Индицирование плоскостей решётки.
Стереографические проекции.
Основы дифракции.
Устройство просвечивающего электронного микроскопа.
Обратное пространство и расшифровка картин дифракции.
Запрещённые рефлексы. Дифракция от поликристаллов и аморфных материалов.
Адсорбционный и дифракционный контраст. Анализ структур.
Специальные методы исследования. Мёссбауровская спектроскопия. Ионно-полевая микроскопия. Рентгеновская фотоэлектронная микроскопия.

Список лекций

плоскостями для кристаллов различных классов (сингоний)(Задача 1-3). Расчёты выполнить

с использование метрического тензора прямого и обратного пространств.
Рассчитать картину дифракции электронов для заданного кристалла в заданном направлении

Задание для РГЗ

1
4. Задача 2
5. Задача 3
6. Задача 4
7. Заключение
8.

Список литературы в следующем формате:
1. ФИО. Название статьи или книги.- Год издания.- Страницы
(ВНИМАНИЕ!!! В тексте работы ссылки на литературу указывать в квадратных скобках)
 

Оформление РГЗ:

срок (до 15 недели)
16-17 неделя – защита РГЗ

Не принимаются

РГЗ в которых:
Отсутствуют выкладки
Перепутан вариант
Плагиат

Критерии оценки работы:

исследования и контроля
Батаев В.А. и др. Методы структурного анализа

материалов и контроля качества деталей

Оптика:
Р. Фейнман. Фейнмановские лекции по физике. Том 3. Излучение. Волны. Кванты.
Eugene Hecht. Optics.

Спектральные методы анализа:
A.J. Garratt-Reed and D.C. Bell. Energy-Dispersive X-Ray Analysis in the Electron Microscope
К. Хаускрофт, Э. Констебл. Современный курс общей химии. Том 1.
Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ.


Электронная микроскопия:
Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
Хирш П. и др. Электронная микроскопия тонких кристаллов
Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. 
Brent Fultz, James M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of Materials

Литература

определения химического состава
Методы определения кристаллической структуры
Методы исследования свойств
Микроскопия и

др

Методы спектрального анализа и др

Дифракционные методы исследования

Не рассматриваются в рамках данного курса