Что такое findslide.org?

FindSlide.org - это сайт презентаций, докладов, шаблонов в формате PowerPoint.

Для правообладателей

Обратная связь

Email: Нажмите что бы посмотреть

Презентация на тему Физические методы исследования материалов(для мм и нт)

Содержание

2. ~17 лекций4 лабораторные работы4 практические работыРГЗ Дифференцированный зачётОбщая информация по курсу
3. Вводная лекция . Классификация методов исследования материалов
4. Сделать расчёты межплоскостных расстояний, углов между направлениями
5. http://www2.physics.ox.ac.uk/sites/default/files/CrystalStructure_fullnotes2.pdfhttp://rdt45m.narod.ru/tenzor_html/tenzor1_2.htmhttp://vk.com/MaterialsCharacterizationПолезные ссылки
7. Типичные картины дифракции электронов
8. 1. Титульный лист2. Содержание (с указанием страниц)3.
9. Правильность выполненияАккуратность оформления (работа должна быть читаема)Сдача
10. Общая информация:Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов
11. Классификация методов исследования материаловМетоды исследования материаловМетоды получения
12. Методы получения изображения
13. Методы получения изображения (электронная микроскопия)
14. Методы получения изображения (атомно-силовая микроскопия)
15. Методы определения химического состава
16. Методы определения элементного состава
17. Методы определения элементного состава
18. Методы определения кристаллической структуры
19. n = 2d sinМетоды определения кристаллической структуры
20. Методы определения кристаллической структуры
21. Методы определения кристаллической структуры
22. Методы определения кристаллической структуры
23. Скачать презентацию
24. Похожие презентации

~17 лекций4 лабораторные работы4 практические работыРГЗ Дифференцированный зачётОбщая информация по курсу

Главная
Разное
Физические методы исследования материалов(для мм и нт)

Физические методы исследования материалов (для мм и нт)Батаев Иван АнатольевичКафедра материаловедения в машиностроении (ауд. V-267)

~17 лекций4 лабораторные работы4 практические работыРГЗ Дифференцированный зачётОбщая информация по курсу

Вводная лекция . Классификация методов исследования материалов Обзор микроскопических методов исследования. Оптическая

Сделать расчёты межплоскостных расстояний, углов между направлениями и плоскостями для кристаллов различных

http://www2.physics.ox.ac.uk/sites/default/files/CrystalStructure_fullnotes2.pdfhttp://rdt45m.narod.ru/tenzor_html/tenzor1_2.htmhttp://vk.com/MaterialsCharacterizationПолезные ссылки

Физические методы исследования материалов(для мм и нт)

1. Титульный лист2. Содержание (с указанием страниц)3. Задача 14. Задача 25. Задача

Правильность выполненияАккуратность оформления (работа должна быть читаема)Сдача в срок (до 15 недели)16-17

Общая информация:Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов методы исследования и контроляБатаев В.А.

Классификация методов исследования материаловМетоды исследования материаловМетоды получения изображенияМетоды определения химического составаМетоды определения

Методы получения изображения (электронная микроскопия)

Методы получения изображения (атомно-силовая микроскопия)

Методы определения кристаллической структуры

n = 2d sinМетоды определения кристаллической структуры

Концепция исследования материалов в общем виде

Слайды презентации

Слайд 2 ~17 лекций
4 лабораторные работы
4 практические работы
РГЗ
Дифференцированный зачёт

Общая

информация по курсу

Слайд 3 Вводная лекция . Классификация методов исследования материалов
Обзор

Вводная лекция . Классификация методов исследования материалов Обзор микроскопических методов исследования.

микроскопических методов исследования. Оптическая микроскопия.
Растровая электронная микроскопия.
Спектральные методы

анализа.
Элементарные основы кристаллографии.
Понятие решётки. Индексы Миллера. Индицирование плоскостей решётки.
Стереографические проекции.
Основы дифракции.
Устройство просвечивающего электронного микроскопа.
Обратное пространство и расшифровка картин дифракции.
Запрещённые рефлексы. Дифракция от поликристаллов и аморфных материалов.
Адсорбционный и дифракционный контраст. Анализ структур.
Специальные методы исследования. Мёссбауровская спектроскопия. Ионно-полевая микроскопия. Рентгеновская фотоэлектронная микроскопия.

Список лекций

Слайд 4 Сделать расчёты межплоскостных расстояний, углов между направлениями и

Сделать расчёты межплоскостных расстояний, углов между направлениями и плоскостями для кристаллов

плоскостями для кристаллов различных классов (сингоний)(Задача 1-3). Расчёты выполнить

с использование метрического тензора прямого и обратного пространств.
Рассчитать картину дифракции электронов для заданного кристалла в заданном направлении

Задание для РГЗ

Слайд 5 http://www2.physics.ox.ac.uk/sites/default/files/CrystalStructure_fullnotes2.pdf

http://rdt45m.narod.ru/tenzor_html/tenzor1_2.htm

http://vk.com/MaterialsCharacterization

Полезные ссылки

Слайд 6

Слайд 7 Типичные картины дифракции электронов

Слайд 8 1. Титульный лист
2. Содержание (с указанием страниц)
3. Задача

1. Титульный лист2. Содержание (с указанием страниц)3. Задача 14. Задача 25.

1
4. Задача 2
5. Задача 3
6. Задача 4
7. Заключение
8.

Список литературы в следующем формате:
1. ФИО. Название статьи или книги.- Год издания.- Страницы
(ВНИМАНИЕ!!! В тексте работы ссылки на литературу указывать в квадратных скобках)

Оформление РГЗ:

Слайд 9 Правильность выполнения
Аккуратность оформления (работа должна быть читаема)
Сдача в

Правильность выполненияАккуратность оформления (работа должна быть читаема)Сдача в срок (до 15

срок (до 15 недели)
16-17 неделя – защита РГЗ

Не принимаются

РГЗ в которых:
Отсутствуют выкладки
Перепутан вариант
Плагиат

Критерии оценки работы:

Слайд 10 Общая информация:
Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов методы

Общая информация:Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов методы исследования и контроляБатаев

исследования и контроля
Батаев В.А. и др. Методы структурного анализа

материалов и контроля качества деталей

Оптика:
Р. Фейнман. Фейнмановские лекции по физике. Том 3. Излучение. Волны. Кванты.
Eugene Hecht. Optics.

Спектральные методы анализа:
A.J. Garratt-Reed and D.C. Bell. Energy-Dispersive X-Ray Analysis in the Electron Microscope
К. Хаускрофт, Э. Констебл. Современный курс общей химии. Том 1.
Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ.

Электронная микроскопия:
Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
Хирш П. и др. Электронная микроскопия тонких кристаллов
Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ.
Brent Fultz, James M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of Materials

Литература