Что такое findslide.org?

FindSlide.org - это сайт презентаций, докладов, шаблонов в формате PowerPoint.


Для правообладателей

Обратная связь

Email: Нажмите что бы посмотреть 

Яндекс.Метрика

Презентация на тему Ближнепольная оптическая спектроскопия

Дифракционный предел
Ближнепольная оптическая спектроскопия Дифракционный предел История развития теории БОМ1928 - Сингом (E.H. Synge) была предложена теория БОМ.1972 Основные узлы БОММикрообъектив, работающий в отраженном свете;Микрообъектив, работающий в проходящем свете;Пьезодвижитель для Теория и Принцип работы БОМ Схема и описание зондаПредел разрешенияАпертурный микроскоп:R = 10 ÷13нмБезапертурный микроскоп:R=1 нм Существует два способа локализации электромагнитного поля: апертурный и безапертурный.1)  Для освещения Микроскопия ближнего поля с использованием апертуры На данном этапе развития техники БОМ конкурируют с электронными микроскопами и имеют Преимущества БОМ: 1.Световой работает как в воздухе, так и в жидкости и Общий вид БОМ Приборы    ИНТЕГРА Соларис. Особенности:Изучение оптических свойств с разрешением до ПрименениеИсследования биологических объектовКонтроль качества поверхностей оптических деталейИзлучающих полупроводниковых структурИсследование характеристик нанооптических и Спасибо за внимание
Слайды презентации

Слайд 2 Дифракционный предел

Дифракционный предел

Слайд 3 История развития теории БОМ
1928 - Сингом (E.H. Synge)

История развития теории БОМ1928 - Сингом (E.H. Synge) была предложена теория

была предложена теория БОМ.
1972 - Эшем (E.A. Ash) в

опытах с микроволнами было получено её первое подтверждение.
1982 - Дитером Полем (лаборатория фирмы IBM, г. Цюрих, Швейцария) был изобретен ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) (сразу вслед за изобретением туннельного микроскопа).

Слайд 4 Основные узлы БОМ
Микрообъектив, работающий в отраженном свете;
Микрообъектив, работающий

Основные узлы БОММикрообъектив, работающий в отраженном свете;Микрообъектив, работающий в проходящем свете;Пьезодвижитель

в проходящем свете;
Пьезодвижитель для перемещения зонда с аппертурой D

< λ и <250нм;
Зонд;
Лазер;
Сканер с возможностью перемещения стола в системах координат:
Х-У-Z, Х, У;


Слайд 5 Теория и Принцип работы БОМ

Теория и Принцип работы БОМ

Слайд 6 Схема и описание зонда
Предел разрешения
Апертурный микроскоп:
R = 10

Схема и описание зондаПредел разрешенияАпертурный микроскоп:R = 10 ÷13нмБезапертурный микроскоп:R=1 нм

÷13нм
Безапертурный микроскоп:
R=1 нм


Слайд 7 Существует два способа локализации электромагнитного поля: апертурный и

Существует два способа локализации электромагнитного поля: апертурный и безапертурный.1) Для освещения

безапертурный.

1) Для освещения объекта и/или детектирования сигнала используется

апертура, размер которой может быть существенно меньше длины волны (d << λ). Как правило, для этой цели используются зонды на основе оптического волокна покрытого металлом и апертурой на конце зонда. При этом апертура должна располагаться на расстоянии от поверхности меньшем, чем длина волны (h << λ).

2) Для локализации излучения используется иголка зонда, поднесенная к освещенной поверхности на расстояние меньше длины волны. В таком режиме острие рассеивает (превращает в дальнее) ближнее поле, локализованное у поверхности образца.

Слайд 8 Микроскопия ближнего поля с использованием апертуры

Микроскопия ближнего поля с использованием апертуры

Слайд 9 На данном этапе развития техники БОМ конкурируют с

На данном этапе развития техники БОМ конкурируют с электронными микроскопами и

электронными микроскопами и имеют свои преимущества и недостатки.
Сравнение БОМ

и ЭМ


Слайд 10 Преимущества БОМ:
1.Световой работает как в воздухе, так

Преимущества БОМ: 1.Световой работает как в воздухе, так и в жидкости

и в жидкости и в вакууме, в отличие от

ЭМ, работающего только в вакууме.
2.Субстрат может быть живой (клетки) или не живой, в отличие от ЭМ, в котором используется только не живой, так как процесс проводится в вакууме.
3.Изображение – цветное
4.БОМ значительно меньше по размерам, проще и дешевле
Недостатки БОМ:
1.Так как размер электрона намного меньше длины волны света, то разрешающая способность электронного микроскопа на несколько порядков больше чем у светового. Разрешающая способность светового микроскопа ограничена длиной световых волн.
2.Увеличение ЭМ больше, чем у БОМ.

Слайд 11 Общий вид БОМ

Общий вид БОМ

Слайд 12 Приборы
ИНТЕГРА Соларис.
Особенности:
Изучение оптических

Приборы  ИНТЕГРА Соларис. Особенности:Изучение оптических свойств с разрешением до 30

свойств с разрешением до 30 нм
Возможность собирать одновременно отраженные

и проходящие фотоны
Беспрецедентно высокое разрешение при работе с флуоресцентно-окрашенными объектами
Открытый дизайн системы

Слайд 13 Применение
Исследования биологических объектов
Контроль качества поверхностей оптических деталей
Излучающих полупроводниковых

ПрименениеИсследования биологических объектовКонтроль качества поверхностей оптических деталейИзлучающих полупроводниковых структурИсследование характеристик нанооптических

структур
Исследование характеристик нанооптических и интегрально-оптических элементов
Исследование характеристик наноэлектронных элементов,

в частности, спектров квантовых точек
Дополнительные возможности
Возможность проводить измерения в жидкости
Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп/спектроскоп

  • Имя файла: blizhnepolnaya-opticheskaya-spektroskopiya.pptx
  • Количество просмотров: 109
  • Количество скачиваний: 0