Что такое findslide.org?

FindSlide.org - это сайт презентаций, докладов, шаблонов в формате PowerPoint.


Для правообладателей

Обратная связь

Email: Нажмите что бы посмотреть 

Яндекс.Метрика

Презентация на тему Математическое моделирование с использованием компактных моделей. (Часть 2)

Содержание

ТРЕБОВАНИЯ К КОМПАКТНЫМ МОДЕЛЯМ1. Общие требования1.1. Возможность настройки модели на широкий спектр геометрических форм и размеров, техпроцессов и внешние воздействия (масштабируемость).1.2. Структура модели должна быть основана на физике.1.3. Простота и интуитивная понятность для пользователя.1.4. Пригодность одновременно
Лекция  Математическое моделирование  ППП и элементов ИМС с использованием компактных моделей (часть 2) ТРЕБОВАНИЯ К КОМПАКТНЫМ МОДЕЛЯМ1. Общие требования1.1. Возможность настройки модели на широкий спектр ТРЕБОВАНИЯ К КОМПАКТНЫМ МОДЕЛЯМ4. Требования к параметрам4.1. Общее количество параметров должно быть Модель уровней 1 - 3Модель первого уровня (Level=1) основана на модели Шихмана-Ходжеса, Полевой транзистор с управляющим  p-n переходомКонструкция интегрального транзистора с управляющим p-n Полевой транзистор с управляющим  p-n переходомЭквивалентная электрическая схемаинтегрального p-ПТП с учётом Параметры модели транзистора с управляющим p-n переходом Ток стока  транзистора с управляющим p-n переходомТок стока: Определение параметров из конструкции транзистора с управляющим p-n переходомОднозатворный транзистор:Многозатворный транзистор:a – половина токопроводящей Подвижность электронов Выходная вольт-амперная характеристика Особенности модели1. Модель Шихмана–Ходжеса неточна для интегральных ПТП, поскольку не учитывает влияния Полевой транзистор с изолированным затвором параметры модели 1-го уровня Полевой транзистор с изолированным затвором параметры модели 1-го уровня Полевой транзистор с  изолированным затвором Конструкция интегрального полевого транзистора с изолированным Ток стока транзистора  с изолированным затворомТок стока: Определение параметров из конструкции транзистора с изолированным затвором Определение параметров из конструкции транзистора с изолированным затвором Модуляция длины канала Модуляция длины каналаОбласть пространственного заряда при нулевом смещении и напряжении питания:Встроенный потенциал: Вольт-амперная характеристика Модели BSIMBSIM – Berkeley Short-channel IGFET ModelВсе версии модели BSIM являются открытыми Эволюция моделей BSIM Модели BSIMКоличество моделей МОП транзисторов, существующих в настоящее время, превысило 100, что МОП-транзисторМодель для большого уровня сигнала Модель для малого уровня сигнала BSIM3v3Модель позволяет учитывать следующие особенности: - эффекты короткого и узкого канала и BSIM3v3Пороговое напряжение: BSIM3v3Ток стока: BSIM3v3Особенности моделирования емкостей:- в модели емкостей используется отдельно эффективная длина и ширина BSIM3v3Количество параметров:DC параметры: 61 C-V параметры: 27NSQ параметры: 1 Геометрические параметры: 16Температурные МОП-транзисторМодель BSIM3 RF LDMOS-транзистор Модели для силовых МОП-транзисторовLg: Индуктивность вывода и разварочной проволоки затвора.Rg; Внутреннее последовательное Измерения на пластине Измерения на пластинеYприбор= Yобщее – Yх.х. Извлечение из схемы на холостом ходеYприбор/х.х. Паразитные параметры Полевой транзистор с барьером ШотткиМодель Куртиса Полевой транзистор с барьером ШотткиМодель СтатсаТок затвора:Ток стока: Формальные моделиВ отличие от физических, формальные модели строятся на основе формального сходства Модель АнгеловаТранзистор с высокой подвижностью электронов Транзистор с высокой подвижностью электронов Транзистор с высокой подвижностью электронов Транзистор с высокой подвижностью электронов Гетеробиполярный транзисторТок базы:Ток коллектора: Возможности моделирования с помощью компактных моделей- оптоэлектронные приборы (лазеры, светодиоды, оптические переключатели);
Слайды презентации

Слайд 2 ТРЕБОВАНИЯ К КОМПАКТНЫМ МОДЕЛЯМ
1. Общие требования
1.1. Возможность настройки

ТРЕБОВАНИЯ К КОМПАКТНЫМ МОДЕЛЯМ1. Общие требования1.1. Возможность настройки модели на широкий

модели на широкий спектр геометрических форм и размеров, техпроцессов

и внешние воздействия (масштабируемость).
1.2. Структура модели должна быть основана на физике.
1.3. Простота и интуитивная понятность для пользователя.
1.4. Пригодность одновременно как для цифровых, так и аналоговых цепей.
1.5. Пригодность для статистического моделирования.
1.6. Предсказательная способность (применимость для экстраполяции по физическим параметрам и геометрии).
2. Требования по степени соответствия объекту
2.1. Достаточная для конкретной задачи точность.
2.2. Максимально возможная достоверность и информационная емкость.
2.3. Физически объяснимое поведение при любых значениях параметров.
2.4. Широкий диапазон изменения переменных.
3. Вычислительные свойства
3.1. Вычислительная эффективность (быстрота расчета, сходимость алгоритмов в SPICE).
3.2. Отсутствие внутренних итерационных циклов.
3.3. Гладкость функций и производных до третьего порядка включительно.
3.4. Гладкость функций по параметрам.

Слайд 3 ТРЕБОВАНИЯ К КОМПАКТНЫМ МОДЕЛЯМ
4. Требования к параметрам
4.1. Общее

ТРЕБОВАНИЯ К КОМПАКТНЫМ МОДЕЛЯМ4. Требования к параметрам4.1. Общее количество параметров должно

количество параметров должно быть минимальным.
4.2. Число подгоняемых параметров и

их чувствительность должны быть минимальными.
4.3. Отсутствие корреляции (избыточности) параметров.
4.4. Параметры должны иметь ясную связь с параметрами техпроцесса и физическую интерпретацию.
4.5. Простота процедуры экстракции параметров.
5. Организационные требования
5.1. Доступность широкому кругу пользователей.
5.2. Хорошая документированность.
5.3. Высокая квалификация персонала, поддерживающего модель.
5.4. Отсутствие высоких требований к квалификации пользователей.
5.5. Пригодность для моделирующих программ разных производителей.
5.6. Возможность быстрой разработки и модификации.
5.7. Совместимость версий одной и той же модели.
5.8. Совместимость разных моделей по параметрам.
5.9. Соответствие стандарту, подтвержденное сертификатом.
5.10. Достаточность финансирования процесса разработки и технической поддержки модели.

Слайд 4 Модель уровней 1 - 3
Модель первого уровня (Level=1)

Модель уровней 1 - 3Модель первого уровня (Level=1) основана на модели

основана на модели Шихмана-Ходжеса, которая представляет модифицированную зарядоуправляемую модель.


Модель первого уровня используется по умолчанию, когда параметр модели (Level) не указан. Отметим основные особенности модели первого уровня:
- наименьшее время вычисления благодаря простоте уравнений;
- не учитывается зависимость подвижности носителей от напряженности электрического поля;
- все емкости рассчитываются по упрощенным формулам.

Модели 2-го и 3-го уровней представляют усовершенствованные версии моделей Мейера.
Модель второго уровня (Level = 2) основана на более точных аналитических выражениях. Модель третьего уровня (Level = 3) является полуэмпирической и использует сочетание эмпирических и аналитических выражений. Для их определения используются результаты измерения характеристик реальных приборов.
Модели второго и третьего уровня учитывают эффекты второго порядка.


Слайд 5 Полевой транзистор с управляющим p-n переходом

Конструкция интегрального транзистора

Полевой транзистор с управляющим p-n переходомКонструкция интегрального транзистора с управляющим p-n

с управляющим p-n переходом
Эквивалентная схема транзистора согласно модели Шихмана-Ходжеса



Слайд 6 Полевой транзистор с управляющим p-n переходом

Эквивалентная электрическая схема
интегрального

Полевой транзистор с управляющим p-n переходомЭквивалентная электрическая схемаинтегрального p-ПТП с учётом

p-ПТП с учётом влияния подложки
Малосигнальная эквивалентная
электрическая схема ПТП с

источниками шумов

Слайд 7 Параметры модели транзистора с управляющим p-n переходом

Параметры модели транзистора с управляющим p-n переходом

Слайд 8 Ток стока транзистора с управляющим p-n переходом
Ток стока:

Ток стока транзистора с управляющим p-n переходомТок стока:

Слайд 9 Определение параметров из конструкции транзистора с управляющим p-n переходом
Однозатворный

Определение параметров из конструкции транзистора с управляющим p-n переходомОднозатворный транзистор:Многозатворный транзистор:a – половина

транзистор:
Многозатворный транзистор:
a – половина токопроводящей части канала;
Z – ширина затвора;
L –

длина затвора.

Слайд 10 Подвижность электронов

Подвижность электронов

Слайд 11 Выходная вольт-амперная характеристика

Выходная вольт-амперная характеристика

Слайд 12 Особенности модели
1. Модель Шихмана–Ходжеса неточна для интегральных ПТП,

Особенности модели1. Модель Шихмана–Ходжеса неточна для интегральных ПТП, поскольку не учитывает

поскольку не учитывает влияния факторов: подпороговой области ВАХ, паразитной

ёмкости ПТП – подложка, топологической асимметрии истока и стока, конструктивно-технологического различия верхнего и нижнего затворов, неоднородного распределения примеси в канале.
2. Модель Шихмана–Ходжеса приводит к погрешности расчёта уровня шумов в линейной области ВАХ.
3. Во многих случаях достаточную для инженерных применений точность моделирования можно получить следующим образом:
- влияние подложки учитывать с помощью полупроводникового диода,
- характеризовать топологическую асимметрию с помощью разных значений параметров модели для истока и стока (обычно RS < RD, CGS > CGD);
- определить несколько наборов параметров модели одного и того же ПТП для описания его ВАХ в диапазоне изменения тока стока;
4. Наличие сопротивлений полупроводниковых областей истока RS и стока RD приводит к уменьшению измеренного значения крутизны.

Слайд 13 Полевой транзистор с изолированным затвором параметры модели 1-го

Полевой транзистор с изолированным затвором параметры модели 1-го уровня

уровня


Слайд 14 Полевой транзистор с изолированным затвором параметры модели 1-го

Полевой транзистор с изолированным затвором параметры модели 1-го уровня

уровня


Слайд 15 Полевой транзистор с изолированным затвором

Конструкция интегрального полевого

Полевой транзистор с изолированным затвором Конструкция интегрального полевого транзистора с изолированным

транзистора с изолированным затвором
Эквивалентная схема транзистора согласно модели Шихмана-Ходжеса



Слайд 16 Ток стока транзистора с изолированным затвором
Ток стока:

Ток стока транзистора с изолированным затворомТок стока:

Слайд 17 Определение параметров из конструкции транзистора с изолированным затвором

Определение параметров из конструкции транзистора с изолированным затвором

Слайд 18 Определение параметров из конструкции транзистора с изолированным затвором

Определение параметров из конструкции транзистора с изолированным затвором

Слайд 19 Модуляция длины канала

Модуляция длины канала

Слайд 20 Модуляция длины канала
Область пространственного заряда при нулевом смещении

Модуляция длины каналаОбласть пространственного заряда при нулевом смещении и напряжении питания:Встроенный потенциал:

и напряжении питания:
Встроенный потенциал:


Слайд 21 Вольт-амперная характеристика

Вольт-амперная характеристика

Слайд 22 Модели BSIM
BSIM – Berkeley Short-channel IGFET Model
Все версии

Модели BSIMBSIM – Berkeley Short-channel IGFET ModelВсе версии модели BSIM являются

модели BSIM являются открытыми моделями (открытые модели имеют общедоступные

уравнения или исходные тексты программы; каждый может их модифицировать, указав при этом отличие от оригинала).

Для короткоканальных транзисторов с L<1 мкм модель первого уровня (Level=1), основанная на зарядоуправляемой модели, достаточно плохо соответствует экспериментальным данным, особенно в области насыщения. Причиной является игнорирование короткоканальных эффектов, таких как эффект насыщения скорости носителей.

Модель Level 1 справедлива для транзисторов с длиной канала более 5 мкм,
Level2 - 2 мкм,
Level3 - 1 мкм,
BSIM1 - 0,8 мкм,
BSIM2 - 0,25 мкм,
BSIM3v3 - 0,15 мкм,
BSIM4 - менее 100 нм.


Слайд 23 Эволюция моделей BSIM

Эволюция моделей BSIM

Слайд 24 Модели BSIM
Количество моделей МОП транзисторов, существующих в настоящее

Модели BSIMКоличество моделей МОП транзисторов, существующих в настоящее время, превысило 100,

время, превысило 100, что затрудняет взаимодействие разработчиков с производством,

усложняет средства идентификации параметров, делает сложным сопровождение моделей поставщиками программ схемотехнического моделирования. Внедрение каждой новой модели в промышленное использование требует около 3 лет.
Преимущества единой модели:
- хорошие качественные показатели
- совместимость со средствами идентификации параметров и различными средствами моделирования.
- обеспечения информационного обмена между производством и заказчиком, внутри большой компании.

Декабрь 1995 г. - создан совет по компактным моделям транзисторов (Compact Model Council - CMC) [29]:
AMD (Advanced Micro Devices), Analog Devices, Avant!, BTA Technology, Cadence Design System, Conexant System, Hewlett Packard, Hitachi, Motorola, IBM, Intel, Lucent Technology, NEC, Philips System, Texas Instruments и TSMC.
Целью совета является стандартизация и решение проблем качества моделей.

Первая стандартизованная модель МОП транзистора BSIM3v3.


Слайд 25 МОП-транзистор
Модель для большого уровня сигнала
Модель для малого

МОП-транзисторМодель для большого уровня сигнала Модель для малого уровня сигнала

уровня сигнала


Слайд 26 BSIM3v3
Модель позволяет учитывать следующие особенности:
- эффекты короткого

BSIM3v3Модель позволяет учитывать следующие особенности: - эффекты короткого и узкого канала

и узкого канала и их влияние на пороговое напряжение;
-

эффекты неоднородного легирования:
- вертикальное неоднородное легирование;
- горизонтальное неоднородное легирование;
- уменьшение подвижности из-за вертикального электрического поля:
- учитывает модель подвижности;
- учитывает скорость дрейфа носителей заряда;
- насыщение скорости дрейфа;
- эффекты объемного заряда:
- сильная инверсия тока стока (линейный режим);
- сильная инверсия тока и выходного сопротивления (режим насыщения);
- эффект снижения барьера, индуцированный стоком (DIBL);
- модуляция длина канала (CLM);
- учет тока подложки, индуцированный объемными эффектами (SCBE);
- учет подпороговой проводимости;
- учет паразитных сопротивлений стока/истока.

Слайд 27 BSIM3v3
Пороговое напряжение:

BSIM3v3Пороговое напряжение:

Слайд 28 BSIM3v3
Ток стока:

BSIM3v3Ток стока:

Слайд 29 BSIM3v3
Особенности моделирования емкостей:
- в модели емкостей используется отдельно

BSIM3v3Особенности моделирования емкостей:- в модели емкостей используется отдельно эффективная длина и

эффективная длина и ширина канала;
для внутренней емкости могут

использоваться модели с различными уравнениями (кусочно-линейные, сглаженные);
емкость перекрытия состоит из двух частей:
независящей от смещения компоненты, которая моделирует эффективную емкость перекрытия между затвором и областями сильнолегированных стока/истока;
2) зависящей от смещения компоненты между затвором и слаболегированными областями стока/истока.
- использование независящей от смещения емкость между пальцами затвором и стоком/истоком

Слайд 30 BSIM3v3
Количество параметров:
DC параметры: 61
C-V параметры: 27
NSQ параметры:

BSIM3v3Количество параметров:DC параметры: 61 C-V параметры: 27NSQ параметры: 1 Геометрические параметры:

1
Геометрические параметры: 16
Температурные параметры: 19
Параметры модели фликер-шума: 8
Параметры

процесса: 9
Параметры разброса геометрических параметров: 5

Слайд 31 МОП-транзистор
Модель BSIM3 RF

МОП-транзисторМодель BSIM3 RF

Слайд 32 LDMOS-транзистор

LDMOS-транзистор

Слайд 33 Модели для силовых МОП-транзисторов
Lg: Индуктивность вывода и разварочной

Модели для силовых МОП-транзисторовLg: Индуктивность вывода и разварочной проволоки затвора.Rg; Внутреннее

проволоки затвора.
Rg; Внутреннее последовательное сопротивление затвора (сопротивление поликремниевого затвора).
Ld:

Индуктивность вывода и разварочной проволоки стока.
RI: Объемное сопротивление эпитаксиального слоя.
Rs: Объемное сопротивление диода.
Is: Источник тока, представляющий взаимоотношение между током диода и напряжением диода.
R2: Сопротивление вывода и разварочной проволоки истока.
Is: Индуктивность вывода и разварочной проволоки истока.
Сх: Масштабная величина емкости, Cgd.
Е1: Источник напряжения с полиномной зависимостью напряжения. Этот элемент не имеет физической реальности, но используется для модифицирования напряжения на Сх таким способом, что комбинация Сх и Е1 эмулирует поведение Cgd в реальном приборе.

Слайд 34 Измерения на пластине

Измерения на пластине

Слайд 35 Измерения на пластине
Yприбор= Yобщее – Yх.х.
Извлечение из

Измерения на пластинеYприбор= Yобщее – Yх.х. Извлечение из схемы на холостом

схемы на холостом ходе
Yприбор/х.х. = Yобщее - Yх.х.
Yк.з./х.х.

= Yк.з. - Yх.х.

Преобразование к Z параметрам
Zприбор/х.х. = Z(Yприбор/х.х.)
Zк.з./х.х. = Z(Yк.з./х.х.)

Извлечение из схемы к.з.
Zприбор = Zприбор/х.х. - Zк.з./х.х.

Преобразование к S параметрам
Sприбор = S(Zприбор)


Слайд 36 Паразитные параметры

Паразитные параметры

Слайд 37 Полевой транзистор с барьером Шоттки
Модель Куртиса

Полевой транзистор с барьером ШотткиМодель Куртиса

Слайд 38 Полевой транзистор с барьером Шоттки
Модель Статса
Ток затвора:
Ток стока:

Полевой транзистор с барьером ШотткиМодель СтатсаТок затвора:Ток стока:

Слайд 39 Формальные модели
В отличие от физических, формальные модели строятся

Формальные моделиВ отличие от физических, формальные модели строятся на основе формального

на основе формального сходства между поведением модели и объекта

относительно внешних выводов. При этом уравнения модели выводятся не из физических представлений о работе прибора, а путем экспертного подбора функциональных зависимостей для наилучшей аппроксимации вольтамперных и вольтфарадных характеристик.
Для получения таких моделей широко используются методы среднеквадратической подгонки параметров уравнений с целью минимизации погрешности моделирования.
Примером формальной модели является широко известная малосигнальная модель транзистора в виде линейного четырехполюсника, кусочно-линейные модели Чуа, модель Ангелова.
Предельно упрощенными разновидностями формальных моделей являются модели переключательного уровня, которые используется для упрощенного моделирования цифровых СБИС.

Слайд 40 Модель Ангелова
Транзистор с высокой подвижностью электронов

Модель АнгеловаТранзистор с высокой подвижностью электронов

Слайд 41 Транзистор с высокой подвижностью электронов

Транзистор с высокой подвижностью электронов

Слайд 42 Транзистор с высокой подвижностью электронов

Транзистор с высокой подвижностью электронов

Слайд 43 Транзистор с высокой подвижностью электронов

Транзистор с высокой подвижностью электронов

Слайд 44 Гетеробиполярный транзистор
Ток базы:
Ток коллектора:

Гетеробиполярный транзисторТок базы:Ток коллектора:

  • Имя файла: matematicheskoe-modelirovanie-s-ispolzovaniem-kompaktnyh-modeley-chast-2.pptx
  • Количество просмотров: 113
  • Количество скачиваний: 0